| 是否进口：是 | 原产国/地区：日本 | 加工定制：否 |
| 品牌：JIMA | 型号：RT CT-05B | 尺寸：40 x 30 x 3mm |
| 材质：塑料、铅 | 用途：用于测量X射线系统的分辨率 | 测量范围：3.0μm-50μm |
日本JIMA RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡
进的微米技术实现了具有 16 种不同宽度（3 至 50μm）的高精度线对分辨率测试卡。 当今，微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸，而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。
线对布局与宽度尺寸: 3 to 50 μm
规格
尺寸：40 x 30 mm, 3mm 厚度
硅基：8 x 8 mm, 0.2mm 厚度
吸收材料：金，厚度≥1.0μm
保护膜：铝蒸汽保护膜，厚度 0.1mm
线数：3 线（只有 3-10μm：6 线）
线条宽度（线条与间距宽度相同）：
T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm；
Ｉ型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm
线对宽度公差：±10%
工作温度：+10℃至+70℃
日本JIMA分辨率测试卡
JIMA（日本检测仪器制造商协会）致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以***X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT CT-01分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）
测试卡封装在一个防护盒中
图案布局：T型
线/空间尺寸：5种规格图案
3μm, 4μm, 5μm, 6μm, 7μm
JIMA RT CT-02分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm
芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.06mm
图案布局：L型
线/空间尺寸：16种规格图案
0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm, 0.9μm, 1.0μm, 1.5μm,
2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 10.0μm, 15.0μm
JIMA RT CT-04分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm
芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.015mm
图案布局：T型
线/空间尺寸：32种规格图案
0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,
0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm
JIMA RT CT-05分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 3mm
芯片尺寸（W x D x T）：8 x 8 x 0.2mm
图案布局： T型(3-10μm)
I型(15-50μm)
线/空间尺寸：16种规格图案
3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm （T型）
15μm, 20μm, 25μm, 30μm, 35μm, 40μm, 45μm, 50
